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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數(shù)測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統(tǒng)、熱刺激電流測量系統(tǒng)
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產(chǎn)品詳細頁
GCSTD高低頻介電常數(shù)測試儀

GCSTD高低頻介電常數(shù)測試儀

  • 產(chǎn)品型號:GCSTD-D
  • 更新時間:2024-07-14
  • 產(chǎn)品介紹:GCSTD高低頻介電常數(shù)測試儀是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產(chǎn)品介紹

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GCSTD-DGCSTD高低頻介電常數(shù)測試儀

滿足標準:

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容

率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數(shù)

的測試方法


GCSTD高低頻介電常數(shù)測試儀試驗方法:

接觸法:適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法:適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極類型:固定電極-測量電極φ38mm/φ50mm(標配電極1套,標配為38mm)

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據(jù)樣品量可配專用電極

試樣類型:固體、液體、粉體、膏體/規(guī)則物或者不規(guī)則物


性能特點:

測試頻率20H2~2MHz,10mHz步進

測試電平10mV~5V,1mV步進

基本準確度0.1%

最高達200次/s的測量速度

320x240點陣大型圖形LCD顯示

五位讀數(shù)分辨率

可測量22種阻抗參數(shù)組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)

電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能

V、1測試信號電平監(jiān)視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存/讀取

內建比較器,10檔分選及計數(shù)功能

多種通訊接口方便用戶聯(lián)機使用

2m/4m測試電纜擴展(選件)

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序


測試材料:

無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件

等的陽抗參數(shù)評估和性能分析。

半導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料:半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性





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